Korrelative Mikroskopie
Wann sollten wir korrelative Mikroskopie-Ansätze anwenden?
- Die Gefüge moderner Werkstoffe werden zunehmend komplexer
- Eine Charakterisierungsmethode allein kann diese Komplexität oft nicht mehr vollständig erfassen
- Jede Charakterisierungsmethode hat ihre Vor- und Nachteile
- Kombination mehrerer Methoden: Nachteile einer bestimmten Methode können überwunden werden, die Vorteile mehrere Methoden kombiniert werden, sowie Informationen über mehrere Skalen hinweg und aus verschiedenen komplementären Informationsquellen zusammengeführt werden
Typisches Anwendungsbeispiel
- In einem korrelativen Ansatz werden höher aufgelöste Methoden (z.B. Rasterelektronen-mikroskop) verwendet, um zusätzliche Informationen zu erhalten und darüber Referenzen zu schaffen
- Diese korrelative Charakterisierung wird nur für einen Bruchteil der Untersuchungen benötigt.
- Die gewonnenen Erkenntnisse und Referenzen ermöglichen für eine Serienauswertung eine Reduzierung auf die einfachste Methode des korrelativen Ansatzes (z.B. Lichtmikroskop)
Kombinierte LM, REM und EBSD Quantifizierung vorgegebener regions of interest
Was wir anbieten
- Korrelative Charakterisierung mittels Lichtmikroskop (LM), Rasterelektronenmikroskop (REM), Elektronenrückstreubeugung (EBSD), energiedisperser Röntgenspektroskopie (EDX)
- Erstellen von Gefügekatalogen
- Benchmarken von Farbätzungen zur LM Auswertung
- Einsatz korrelativer Untersuchungen für das Anwenden von maschinellem Lernen
- Anwenden der geschaffenen Referenzen für eine bessere, objektivere und reproduzier-bare Zuordnung der Grundwahrheit
- Welche Klassifizierungs-genauigkeiten können mit verschiedenen Methoden erreicht werden? Welche Methode ist für bestimmte Fragestellungen notwendig/ ausreichend?
ThEtching BaseOne
Mit Hilfe des in Zusammenarbeit mit Cloeren Technology entwickelten Modells ThEtching Base One können wir Gefügekontrastierungen gezielt steuern, live über einen Bildschirm mitverfolgen und aufnehmen. Zeitlich versetzte Ätzreaktionen können somit kontinuierlich in einem Prozess visualisiert und bewertet werden.
Beispielhafte Visualisierungen können Sie in den folgenden Videoclips sehen:
Kontakt bei Fragen
Dr.-Ing. Dominik Britz
Direktor
Dr.-Ing. Tobias Fox
Operativer Geschäftsführer
Weitere Schwerpunkte
KI und Maschinelles Lernen
Unsere Leistungen reichen von Machbarkeitsstudien mit unseren zahlreichen KI-Ansätzen bis hin zur explorativen Datenanalyse mit unüberwachtem ML.
Materialanalyse und Mikroskopie
Von chemischen Analysen über Gefügeuntersuchungen und Texturanalyse bis hin zu hochauflösenden 3D-Tomographien im Nanometerbereich.
Schadensanalyse
In der Schadensanalyse bieten wir über die Ursachenanalyse von Materialversagen hinaus auch eine vollständige Komponentenanalyse auf der Makro- und Mikroskala.
Triboelektrische Charakterisierung
Zusätzlich zu unserer Gefügeanalyse bieten wir eine große Bandbreite an triboelektrischen Messungen unter kontrollierten Bedingungen.
Oberflächen-funktionalisierung
Wir bieten hochauflösende Mikroskopie, chemische Oberflächenanalyse und Profilaufnahmen zur Schichtsystemanalyse mit FIB-Querschnitten.
Sie sind an einer Zusammenarbeit interessiert?
Nehmen Sie gerne einfach Kontakt mit uns auf! Wir freuen uns darauf, uns mit Ihnen auszutauschen und gemeinsam herauszufinden, wie wir Ihnen bei Ihrem Vorhaben weiterhelfen können.