Schadensanalyse

Das Ziel einer Schadensanalyse ist der Nachweis von Ursachen, welche zu den entstandenen Schadensereignissen geführt haben. Darüber hinaus dienen die Ergebnisse durch ihre Rückwirkung auf Konstruktion, Werkstoffwahl, Fertigungsprozesse, Prüfverfahren und Betriebsbedingungen sowie durch Inspektion bzw. Austausch gefährdeter Bauteile im Betrieb zur Prävention weiterer Schäden.

Eine systematische Schadensanalyse erfordert eine ganzheitliche Betrachtungsweise sowie methodisches Vorgehen. Die dazu nötigen Kenntnisse umfassen die gesamte materialwissenschaftliche Breite: Bauteil-/ Betriebsfestigkeit, Korrosion, Verschleiß, Fertigungstechnik, Werkstoffe, Werkstoffprüfung/ -diagnostik usw.

Im Bereich der Schadensanalyse können wir mit unseren Systemen z.B. folgende Fehlstellen identifizieren und analysieren:

  • Bruchflächen
  • Rissfortschritt und Rissbewertung
  • Seigerungen, Ausscheidungsverteilungen und Fremdeinschlüsse
  • Korrosionsangriffe

Neben der Identifikation von Bruchursachen sind wir auch in der Lage, Bauteile auf der Makro- und Mikroskala vollständig zu charakterisieren.

Kontakt bei Fragen

Dr.-Ing. Dominik Britz

Tobias Fox

Dr.-Ing. Tobias Fox

Operativer Geschäftsführer

+49 157 52210561
t.fox@mec-s.de
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Weitere Schwerpunkte

KI und Maschinelles Lernen

Unsere Leistungen reichen von Machbarkeitsstudien mit unseren zahlreichen KI-Ansätzen bis hin zur explorativen Datenanalyse mit unüberwachtem ML. 

Korrelative Mikroskopie

Eine korrelative Charakterisierung von Mikrostrukturen dient als Benchmark für eine automatisierte Gefügeerkennung und als Ausgangspunkt für Machine-Learning-Ansätze. 

Materialanalyse und Mikroskopie

Von chemischen Analysen über Gefügeuntersuchungen und Texturanalyse bis hin zu hochauflösenden 3D-Tomographien im Nanometerbereich.

Triboelektrische Charakterisierung

Zusätzlich zu unserer Gefügeanalyse bieten wir eine große Bandbreite an triboelektrischen Messungen unter kontrollierten Bedingungen. 

Oberflächen-funktionalisierung

Wir bieten hochauflösende Mikroskopie, chemische Oberflächenanalyse und Profilaufnahmen zur Schichtsystemanalyse mit FIB-Querschnitten. 

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