Triboelektrische Charakterisierung

ECR Prüfstand

Fretting

Elektrische Kontakte sind in unzähligen modernen Geräten und Systemen allgegenwärtig. Es ist zwingend erforderlich, dass Verbindungskomponenten angemessene elektrische, mechanische und chemische Eigenschaften aufweisen, um die entscheidende Rolle zu erfüllen, die sie im System spielen.

Ergänzend zu unserer Mikrostrukturanalyse sind wir in der Lage, die folgenden triboelektrischen Messungen unter kontrollierten Bedingungen durchzuführen, um sicherzustellen, dass die strengen Anforderungen für diese Teile erfüllt werden:

  • Elektrischer Kontaktwiderstand (ECR)
  • Steckkraft (einschließlich Normalkraft, Reibungskraft und Reibungskoeffizient (COF) für einen oder mehrere Steckzyklen)
  • Current sweep
  • Lichtbogenentladung
  • Indentation
  • Scratch-Test
  • Fretting

Für die Gegenelektrode können wir zwischen Rundkopf- oder Flachkopfnieten sowie mehreren typischen Kontaktmaterialien wählen.

Mögliche Messaufbauten

ECR und COF

Steckspur auf DLIP-Strukturen

Ende einer Steckspur

Kontakt bei Fragen

Dr.-Ing. Dominik Britz

Tobias Fox

Dr.-Ing. Tobias Fox

Operativer Geschäftsführer

+49 157 52210561
t.fox@mec-s.de
LinkedIn

Weitere Schwerpunkte

KI und Maschinelles Lernen

Unsere Leistungen reichen von Machbarkeitsstudien mit unseren zahlreichen KI-Ansätzen bis hin zur explorativen Datenanalyse mit unüberwachtem ML. 

Korrelative Mikroskopie

Eine korrelative Charakterisierung von Mikrostrukturen dient als Benchmark für eine automatisierte Gefügeerkennung und als Ausgangspunkt für Machine-Learning-Ansätze. 

Schadensanalyse

In der Schadensanalyse bieten wir über die Ursachenanalyse von Materialversagen hinaus auch eine vollständige Komponentenanalyse auf der Makro- und Mikroskala. 

Materialanalyse und Mikroskopie

Von chemischen Analysen über Gefügeuntersuchungen und Texturanalyse bis hin zu hochauflösenden 3D-Tomographien im Nanometerbereich.

Oberflächen-funktionalisierung

Wir bieten hochauflösende Mikroskopie, chemische Oberflächenanalyse und Profilaufnahmen zur Schichtsystemanalyse mit FIB-Querschnitten. 

Sie sind an einer Zusammenarbeit interessiert?

Nehmen Sie gerne einfach Kontakt mit uns auf! Wir freuen uns darauf, uns mit Ihnen auszutauschen und gemeinsam herauszufinden, wie wir Ihnen bei Ihrem Vorhaben weiterhelfen können.