Materialanalyse

Viele Eigenschaften eines Materials können nur mit Spezialgeräten bestimmt werden. Neben der Bestimmung der Materialzusammensetzung über Funkenspektrometrie bieten wir auch Eigenspannungsmessungen oder Texturanalysen mittels Röntgenspektroskopie an.

Für hochaufgelöste und extrem präzise Fragestellungen haben wir neben FIB-, REM-, EDX- und EBSD-Untersuchungen auch die Möglichkeit für 3D-Tomographien im Mikrometerbereich und Atomsondentomographien im Nanometerbereich anzufertigen.

Chemische Analyse mittels Funkenspektrometrie

Sowohl bei der Qualitätskontrolle des Warenein- und ausgangs, der Prozessbegleitung und auch bei möglichen Verwechslungsprüfung spielt die Materialanalytik eine entscheidende Rolle. Mithilfe unseres vollausgestatteten Funkenspektrometers können wir innerhalb weniger Minuten die chemische Zusammensetzung von Proben bis in den unteren ppm-Bereich bestimmen.

Komplementäre Untersuchungen zur Gefügeanalyse, REM-EDX oder Atomsondentomographie sind ebenfalls bei uns möglich.

Durch die maximale Ausstattung unseres Geräts können wir Legierungen basierend auf folgenden Elementen untersuchen:

  • Eisen inklusive niedrig und hoch legierter Stähle sowie Gusseisen
  • Aluminium
  • Kupfer
  • Nickel
  • Titan
  • Cobalt
  • Zinn
  • Zink
  • Blei
  • Magnesium

Röntgenbeugungsanalyse

PANalytical Xpert Pro MPD

PANalytical Empyrean

Aufgrund ihrer Vielfalt und Präzision zählen die integralen Verfahren der Röntgenbeugungsanalyse zu den wichtigsten Methoden der phasenspezifischen Materialcharakterisierung.

Mit unseren Geräten können wir folgende Informationen ermitteln:

  • Qualitative und quantitative Bestimmung von Phasen, deren Zusammensetzungen sowie deren Anteile am Probenvolumen
  • Aufbau der kristallinen Struktur (z.B. Struktur, Gitterkonstante, Netzebenenabstand)
  • Anwesenheit amorpher Phasen
  • Gitterbaufehler, Dichte von Versetzungen, Stöchiometrie

Auch zur Beschreibung des Gefügezustands können wir gewinnbringende Messungen durchführen:

  • Eigenspannungsanalyse zur Bestimmung der Existenz und Größe von herstellungs- oder einsatzbedingten, oberflächennahen Eigenspannungen
  • Texturanalyse zur Detektion bevorzugter Orientierungen von Kristalliten an Oberflächen und Beschichtungen

Durch spezielle, einsetzbare Optiken können wir zusätzliche Messungen anbieten:

  • Korngrößenbestimmung nanokristalliner Materialien
  • Bestimmung des Verformungszustands, der Dicke und der Qualität von Dünnschichten
  • Vermessung von Einkristallen und deren Perfektion

Unsere eingebaute Hochtemperaturkammer ermöglicht Phasenanalysen unter Vakuum oder Schutzgasatmosphäre bei Temperaturen bis zu 1200 °C. Phasenanalyse sowie Spannungs- und Texturanalyse sind bei geeignetem Probenmaterial bis in den Mikro-Bereich mit bis zu 50 µm lokaler Auflösung möglich.

Um ein verbessertes Signal-Untergrund-Verhältnis zu erreichen und damit präzisere Ergebnisse zu liefern, können wir auch besonders untergrundarme Phasenanalysen durchführen. Die Kombination dieser Techniken ist für Labordiffraktometer nahezu einzigartig und neuster Stand der Labortechnik.

Phasenanalyse kristallin – amorph

Texturanalyse inkl. Polfiguren

Mikrostrukturanalyse mit REM, FIB und APT

Durch die hohe Auflösung bis in den Sub-nm-Bereich ist das REM unser Standardwerkzeug zur Untersuchung von:

  • Ausscheidungen und Einschlüssen
  • Schichtsystemen
  • Korngrößen
  • Poren und anderen Sub-µm-Strukturen

Die Kombination aus FIB und REM erweitert unser Repertoire um folgende Möglichkeiten:

  • Erzeugung oberflächennaher Querschnitte (Beispielvideo ansehen)
  • Charakterisierung dünner Schichten und Schichtsysteme
  • Herstellung von STEM- und APT-Proben
  • 3D-Darstellung und Berechnung von Gefügen

Im Bereich der Schadensanalyse können wir mit unseren Systemen folgende Fehlstellen identifizieren und analysieren:

  • Bruchflächen
  • Rissfortschritt und Rissbewertung
  • Wasserstoffversprödung
  • Fremdeinschlüsse

Zusätzlich eingebaute Systeme ermöglichen uns, eine ganzheitliche Bewertung durchzuführen:

  • Chem. Analyse von Partikeln, Schichten oder Elementverteilungen (EDX)
  • Analyse von Kristallorientierungen, Korngrößen-verteilungen, Versetzungsdichten, Texturen, Verformungen und Vorzugsrichtungen (EBSD)
  • Rekonstruktion ehemaliger Austenitkörner aus EBSD-Daten
  • Untersuchung und chem. Analyse von Ausscheidungen, Phasen und Schichten bis in den Sub-nm-Bereich (STEM inkl. STEM-EDX)
  • Lokal aufgelöste Reparaturen, Fertigung präziser Maskengeometrien und spezieller mechanischer Bauteile, gezielte Abscheidung leitender und nichtleitender Verbindungen (Micromachining) (Beispielvideo ansehen)

Darüber hinaus können wir auf de facto atomarer Skala mittels Atomsondentomographie (APT) drei-dimensionale Materialanalysen verschiedenster Werkstoffe im Nanoskalenbereich mit Analyse-empfindlichkeiten von bis zu 5 ppm anbieten.

Wasserstoffversprödung

STEM-Analyse

Schichtdickenanalyse

APT-Analyse

Untersuchungen 3D-Tomographie

Durch die FIB-REM-Technik können Materialien hochlokal schichtweise abgetragen und dargestellt werden. Das daraus rekonstruierte 3D-Gefüge liefert neue Erkenntnisse über Größe, Form, Verteilung und Konnektivität mehrerer Phasen im Raum

Weitere Untersuchungen

Oberflächenanalyse

Neben der Darstellung und Analyse von Oberflächen bieten wir auch Profilaufnahmen zur Schichtsystem-Bestimmung an. Wir stehen Ihnen dabei nicht nur bei der Oberflächen-Charakterisierung zur Seite, sondern können auch gezielt Eigenschaften verändern.

Mikroskopie

Wir sind in der Lage Materialien zielgenau zu präparieren, kontrastieren und analysieren. Neben metallographischen Präparationsmöglichkeiten stehen uns dazu Licht-, Laserscanning- und Rasterelektronenmikroskope zur Verfügung.

Kontakt bei Fragen

Dr.-Ing. Dominik Britz

Stellvertretender Geschäftsführer

+49 681 302 70540
d.britz@mec-s.de
LinkedIn

Adrian Thome, M.Sc.

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