Materialanalyse

Viele Materialeigenschaften lassen sich nur mit hochspezialisierten Analyseverfahren bestimmen. Wir bieten eine umfassende Charakterisierung Ihrer Materialien durch modernste Methoden – von chemischen Analysen über Gefügeuntersuchungen und Texturanalyse bis hin zu hochauflösenden 3D-Tomographien im Nanometerbereich. 

Für Qualitätskontrolle, Prozessüberwachung oder Verwechslungsprüfungen bestimmen wir die chemische Zusammensetzung von Materialien schnell und präzise – bis in den unteren ppm-Bereich. Unsere voll ausgestattete Funkenspektrometrie ermöglicht die Analyse folgender Legierungen: 

• Eisen, inklusive niedrig- und hochlegierter Stähle und Gusseisen 
• Aluminium 
• Kupfer 
• Nickel 
• Titan 
• Cobalt 
• Zinn 
• Zink 
• Blei 
• Magnesium 

Aufgrund ihrer Vielfalt und Präzision zählen die integralen Verfahren der Röntgenbeugungsanalyse zu den wichtigsten Methoden der phasenspezifischen Materialcharakterisierung. Unsere XRD-Systeme (PANalytical Xpert Pro MPD und Empyrean) ermöglichen:

• Qualitative und quantitative Phasenbestimmung 
• Analyse kristalliner Strukturen (Gitterkonstante, Netzebenenabstand) 
• Untersuchung amorpher Phasen 
• Analyse von Gitterbaufehlern, Versetzungsdichte und Stöchiometrie 
• Eigenspannungsanalyse: Qualitative und quantitative Bestimmung von herstellungs- und einsatzbedingten oberflächennahen Eigenspannungen 
• Texturanalyse: Detektion bevorzugter Orientierungen von Kristalliten an Oberflächen und Beschichtungen 

Durch spezielle Optiken bieten wir zusätzlich:

• Korngrößenanalyse nanokristalliner Materialien 
• Dünnschichtcharakterisierung (Dicke, Qualität, Verformungszustand) 
• Einkristall-Vermessung und Perfektionsanalyse 
• Untergrundarme Phasenanalysen auf dem neusten Stand der Labortechnik 

Unsere eingebaute Hochtemperaturkammer ermöglicht Phasenanalysen bis 1200 °C in Vakuum oder Schutzgasatmosphäre mit lokaler Auflösung von bis zu 50 µm. 

Mit hochauflösender Rasterelektronenmikroskopie (REM) analysieren wir bis in den Sub-nm-Bereich: 

• Ausscheidungen, Einschlüsse und Poren 
• Schichtsysteme und Korngrößen 
• Bruchflächen und Rissverläufe (inkl. Wasserstoffversprödung) 

Die Kombination aus FIB und REM ermöglicht zusätzlich: 

• Erzeugung oberflächennaher Querschnitte 
• Charakterisierung dünner Schichten und Schichtsysteme 
• Präparation von STEM- und APT-Proben 
• 3D-Gefügedarstellungen 

Im Bereich der Schadensanalyse identifizieren und untersuchen wir Fehlstellen ganzheitlich:  

• Bruchflächen 
• Rissfortschritt und Rissbewertung 
• Wasserstoffversprödung 
• Fremdeinschlüsse 

Unser Gesamtangebot zur Mikroskopie entnehmen Sie der folgenden Seite.

Unsere APT-Technologie ermöglicht: 

• 3D-Analysen mit einer Empfindlichkeit bis 5 ppm 
• Untersuchung von Phasengrenzen und chemischen Zusammensetzungen auf Nanoskalenebene 

Durch schichtweises Abtragen mit der FIB-REM-Technik rekonstruieren wir präzise 3D-Gefüge, um Form, Größe, Verteilung und Konnektivität verschiedener Phasen zu visualisieren.