Mikroskopie
Das Gefüge weiß alles – es speichert die Herstellungshistorie ab und bestimmt die Eigenschaften des Materials. Um Materialien anhand ihres Gefüges zu charakterisieren, stehen uns ein Labor zur zielgerichteten metallographischen Präparation sowie Licht-, Laser-Scanning- und Rasterelektronenmikroskope zur Verfügung.
Materialographie
In unserem voll ausgestatteten Materialographielabor garantieren wir eine bestmögliche Präparation und Analyse – von der Probennahme über die Präparation bis hin zur Kontrastierung bzw. dem elektrochemischen Ätzen des Gefüges. Dafür stehen mehrere Trenn- und Schleifmaschinen, ein eigenes Ätzlabor und Spezialgeräte zum Vibrations- oder Elektropolieren zur Verfügung.
Die Visualisierung des Gefüges erfolgt mit unseren Licht- und Laser-Scanning-Mikroskopen. Letzteres ermöglicht uns über die Bildgebung hinaus eine hochpräzise Bestimmung von 3D-Oberflächenkennwerten wie Rauheit oder Textur mit einer Höhenauflösung von bis zu 10 nm.
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Unser Angebot in der Materialographie:
- Vollumfängliche Gefügeauswertung
- Rauheitsmessung
- Härtemessung
- Quantitative Bestimmung der chemischen Zusammensetzung
- Bestimmung der Phasen und Phasenanteile im Gefüge
- Messung von Partikelgrößen und Partikelanteilen
- Bestimmung von Korngrößen und Korngrößenverteilungen
- Schichtdickenmessung am Querschnitt
- Messung von Dendritenarmabständen
- Kugelgraphitanalyse
- Lamellengraphitanalyse
ThEtching BaseOne
In Zusammenarbeit mit der Firma Cloeren Technology haben wir den ThEtching Base One zur Gefügekontrastierung entwickelt. Die Visualisierung des Ätzprozesses in Echtzeit über einen Bildschirm ermöglicht eine gezielte Steuerung der Kontrastierung und deren Bewertung, ganz ohne die bedienende Person den Ätzchemikalien ausgesetzt werden muss.
Beispielhafte Visualisierungen können Sie den folgenden Videos entnehmen:
Hochauflösende Mikroskopie: FIB-REM, EDX, EBSD
Unser Rasterelektronenmikroskop (REM) ermöglicht eine hohe Auflösung bis in den Sub-nm-Bereich zur Untersuchung von:
- Ausscheidungen und Einschlüssen
- Schichtsystemen
- Korngrößen
- Poren und anderen Sub-µm-Strukturen
Der fokussierte Ionenstrahl (FIB) in unserem REM erweitert unser Repertoire um folgende Möglichkeiten:
- Erzeugung oberflächennaher Querschnitte (Link Beispielvideo ansehen)
- Charakterisierung von Dünnschichten und Schichtsystemen
- Herstellung von STEM- und APT-Proben
- 3D-Darstellung und Rekonstruktion von Gefügen
Zusätzlich eingebaute Systeme ermöglichen uns, eine ganzheitliche Bewertung durchzuführen:
- Chemische Analyse mit EDX: Partikel, Schichten oder Elementverteilungen
- EBSD: Analyse von Kristallorientierungen, Korngrößen-Verteilungen, Versetzungsdichten, Texturen, Verformungen und Vorzugsrichtungen
- Rekonstruktion ehemaliger Austenitkörner aus EBSD-Daten
- Untersuchung und chemische Analyse mit STEM und STEM-EDX: Ausscheidungen, Phasen und Schichten bis in den Sub-nm-Bereich
- Micromachining-Sonderlösungen: Lokal aufgelöste Reparaturen, Fertigung präziser Maskengeometrien und spezieller mechanischer Bauteile, gezielte Abscheidung leitender und nichtleitender Verbindungen (Link Beispielvideo ansehen)
Wasserstoffversprödung
STEM-Analyse
Schichtdickenanalyse
APT-Analyse
Mikroskopie Beispiele
Weitere Untersuchungen
Oberflächenanalyse
Neben der Darstellung und Analyse von Oberflächen bieten wir auch Profilaufnahmen zur Schichtsystem-Bestimmung an. Wir stehen Ihnen dabei nicht nur bei der Oberflächen-Charakterisierung zur Seite, sondern können auch gezielt Eigenschaften verändern.
Materialanalyse
Dank unseres Funkenspektrometers können wir die chemische Zusammensetzung von Materialien bis in den ppm-Bereich bestimmen. Weitere Untersuchungsmethoden in unserem Portfolio sind z.B. Mikrostrukturanalysen mittels FIB-REM-Technik, Röntgenbeugungsanalysen oder 3D-Tomographien.
Kontakt bei Fragen
Dr.-Ing. Dominik Britz
Stellvertretender Geschäftsführer
Adrian Thome, M.Sc.
Chief Operating Officer
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